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实验室能力介绍

气候环境试验

气候环境试验是通过模拟真实的气候条件或再现气候条件的影响，在一定程度上证明产品在特定气候条件下保持完好和正常工作。对产品的影响主要有：热老化、软化融化升华、膨胀、脆化、机械强度的减低、物理性收缩、潮气吸收或吸附、化学反应、腐蚀、绝缘体的导电率增加等，从而造成产品开裂、绝缘损坏、物理性损坏、机械故障、增加机械应力等。

测试项目及标准：

低温                                         gb/t 2423.1；iec 60068-2-1；en 60068-2-1；                        

高温                                         gb/t 2423.2；iec 60068-2-2；en 60068-2-2；    

恒定湿热（恒温恒湿）                 gb/t 2423.3；iec 60068-2-78；en 60068-2-78；

交变湿热                                   gb/t 2423.4；iec 60068-2-30；en 60068-2-30；

温度变化（快速温变/冷热冲击）   gb/t 2423.22；iec 60068-2-14；en 60068-2-14；

温度/湿度组合循环                     gb/t 2423.34；iec 60068-2-38；en 60068-2-38；

盐雾（交变盐雾）                      gb/t 2423.17；iec 60068-2-11；en 60068-2-11；

                                              gb/t 2423.18；iec 60068-2-52；en 60068-2-52；gb/t 10125；iso 9227；astm b 117；    

ip防护（ip代码）                       gb 4208；iec 60529；en 60529；

低气压                                  gb/t 2423.27-2020，iec 60068-2-39:2015，gjb 150.2a-2009  

荧光紫外灯（uv测试）                gb/t 16422.3；iso 4892.3；astm g 154；astm d 4674；

氙灯                                         gb/t 16422.2；iso 4892.2；astm g 155；

人工汗液                                   iso 3160-2 

机械环境试验

机械环境试验是评定元器件、零部件及整机在预期的存储、运输及使用环境中抵抗机械应力能力的有效方法。对产品的影响主要有：造成结构损坏（如结构变形、产品裂纹或断裂）、产品功能失效（如接触不良、继电器误动作）、工艺性破坏（如螺钉或连接件松动、脱焊）等。

试验项目及标准：

振动                 gb/t 2423.10；iec 60068-2-6；en 60068-2-6；

                       gb/t 2423.56；iec 60068-2-64；en 60068-2-64；

                       gb/t 4857.7；iso 2247；

冲击                 gb/t 2423.5；iec 60068-2-27；en 60068-2-27；

碰撞                 gb/t 2423.6；iec 60068-2-27；en 60068-2-27；

跌落                 gb/t 2423.7；gb/t 4857.5；iso 2248；iec 60068-2-31;

锤击(ik防护)      gb/t 20138；iec 62262；gb/t 2423.55；iec 60068-2-75；

综合环境试验

综合类试验是模拟电子产品在运输、存储和使用过程中经受到的综合环境应力及其影响，能更真实地反映电工电子产品在运输和实际使用过程中对温湿度及振动复合环境变化的适应性，暴露产品的缺陷，是新产品研制、样机试验、产品合格鉴定试验全过程必不可少的重要试验手段。

试验项目及标准：

三综合                       gb/t 2423.35；iec 60068-2-50；gb/t 2423.36；iec 60068-2-51；

ista                          ista 1a；ista 1b；ista 1c；ista 1d；ista 2a；ista 2b；ista 2c；ista 3a；ista 3b；ista 6a（联邦）； ista 6a（亚马逊）；

轨道交通                     en 50155；iec 60571;gb/t 25119;iec 61373;gb/t 21563;

道路车辆电子设备         gb/t 28046.3；iso 16750-3；gb/t 28046.4；iso 16750-4；                  

计算机产品                  gb/t 9813.1;gb/t 9813.2;gb/t 9813.3; gb/t 9813.4;

手持式信息处理设备      gb/t 18220; 

老化寿命类试验     

老化寿命试验是针对电子产品仿真出一种或高温、或恶劣环境、或重复的测试，是提高产品稳定性、可靠性的重要测试、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，通过此测试程序可检杳出不良品或不良件，是客户迅速找出问题、解决问题的有效手段，充分提高客户生产效率和产品品质。

试验项目及标准：

平均故障间隔时间（mtbf）   gb/t 5080.7；gb/t 13426；sj/t 11325；

线材摇摆测试                       eia-364-41

插拔力测试                          eia-364-13

耐久性测试                          eia-364-09